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相控阵检测内壁腐蚀试验

时间:2020-03-11 点击次数:102

导语:

     本文是以前做过的一个试验,现场有一 处容器需要测定腐蚀情况,测腐蚀我们传统的方式是采用测厚仪,在现场工件上画格子线进行单点测厚,本次业主要求测厚需要采用可记录的方式,何为可记录方式?理解可记录至少检测结果可存储、检测位置可追溯。小编想采用相控阵检测会是什么效果,于是采用相控阵进行试验,下面是试验结果。

一、试验准备:

1、检测系统

设备:OLYMPUS OmniScan MX2;

探头:5L16-A10;

楔块:0L-A10;

编码器:mini编码器

2、采用试块

阶梯平底孔试块(φ8mm平底孔),结构形式见图1:

图1.阶梯试块结构形式

二、试验过程及检测结果

 1、首先对设备探头进行及楔块进行选择(相控阵设备内置一些探头及楔块的参数,需要根据实际应用的型号选择,确保定位、定量的准确性。如设备中无内置信息需要自定义进行设置)。

      2、本文未对TCG(时间增益修正)进行校准,只是针对不同的聚焦法则下进行比对检测。

      3、聚焦法则的设置:采用0度线扫描,激发孔径为4晶片,激发起始晶片为1,终止晶片为16,连接mini扫查器,检测由厚至薄,探头声束通过底片平底孔,检测效果见图2.

图2.激发四晶片线扫描检测结果

3、聚焦法则的设置:

采用0度线扫描,激发孔径为4晶片,激发起始晶片为1,终止晶片为16,连接mini扫查器,检测由厚至薄,探头声束通过底片平底孔,检测效果见图3.

图3.激发八晶片线扫描检测结果

4、结论:

采用OmniScan MX2检测腐蚀,线扫描可用,B扫描检测结果直观(板厚变化明显,平底孔显示清晰)定量准确,C扫描检测结果直观易见,无法对面积定量,索引轴为未校正标尺,无法对面积进行定量。可采用TOMview,进行体积融合。

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