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SDD还是PIN:您的手持式XRF分析仪需要哪种探测器?

时间:2020-07-31 点击次数:178

 

在购买手持式XRF分析仪时,确定需要硅漂移探测器(SDD)还是PIN探测器是您需要做出的首要选择之一。

 

奥林巴斯Vanta Element XRF系列中的两款分析仪就配备了两种不同的探测器:Vanta Element分析仪装配有PIN探测器,而Vanta Element-S分析仪装配有SDD探测器。

 

SDD对比PIN:它们之间有什么差别?

硅漂移检测器(SDD)是一种较新的技术,其每秒钟的X射线计数率比PIN探测器大约多10倍。SDD探测器的分辨率也比PIN探测器大约低40 eV。不过,伴随着SDD性能的提高是成本的增加。

 

在确定哪种探测器更适合您的时候,您需要考虑打算如何使用XRF分析仪。在此要问您两个重要的问题:

 

1、您是否需要测量一些轻元素,如:镁(Mg)、铝(Al)、硅(Si)、磷(P)、硫(S)、氯(Cl)、钾(K)或钙(Ca)?

这些较轻元素的定量性检测只能由装配有SDD探测器的分析仪完成。许多人因此错误地认为不能使用装配了PIN探测器的分析仪对铝合金进行分拣。但是,配备了PIN探测器的分析仪可以基于较重元素(如:铜、铬或铁)的含量对许多铝合号进行分拣。当然要进行更细微的区分,如:镁含量不同的6061铝和6063铝,需要使用配备了SDD探测器的分析仪。

 

 

2、您是否需要较低的检出限?

SDD探测器的检出限(LOD)通常比PIN探测器低约3倍。SDD探测器也比PIN探测器的计数率高,因此具有更高的精密度和灵敏度。

 

 

哪种分析仪更适合您?

我们希望上面的问题已经帮助您确定了使用哪种探测器,这意味着您向购买一款合适分析仪的目标又迈近了一步。

 

如果您需要SDD探测器,那么您可能需要详细了解我们的Vanta Element-S手持式XRF分析仪,这款价格实惠的分析仪可以探测轻元素,并对合金进行辨别。

 

这款分析仪可以在几秒钟之内快速、地辨别镁(Mg)、铝(Al)和硅(Si)元素。分析仪的SDD探测器还可以区分相似的合号,如:303和304不锈钢,6061和1100铝,以及6063和1100铝。这款分析仪可以有效地测量黑色金属、铝、铜、不锈钢、镍和金的含量,是完成废料回收、基本PMI(材料成分辨别)、金属制造和贵金属识别等应用的理想工具。

 

Vanta Element-S分析仪

 

如果您需要PIN探测器,那么请您仔细了解一下我们的初级Vanta Element分析仪,这款价格实惠的分析仪可以对合金进行辨别。

 

无论您选择哪款分析仪,您都可以放心使用,因为两款分析仪都具有使Vanta系列分析仪声名远扬的基本特性:检测迅速,结果可靠,坚固耐用,连通性好,而且其操作便捷性堪比智能手机。

两款分析仪都具有以下优势特性:

  • 符合IP54评级标准,具有防尘、防潮的特性。
  • 通过了坠落测试(MIL-STD-810G),可避免分析仪在坠落时受到损坏,从而减少了对分析仪进行高成本维修的需求。
  • Axon技术有助于迅速可靠地完成检测。
  • 借助奥林巴斯科学云系统 ,可以实现云连接和现代化的数据共享。

 

如果您还是不太确定SDD和PIN探测器之间的差别,或者对XRF技术还有其他疑问,请不要迟疑,向我们寻求帮助!

 

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