欢迎访问北京新兴日祥科技发展有限公司网站

当前位置:主页 > 技术文章 > 相控阵技术优于常规超声技术

技术文章

Technical articles

相控阵技术优于常规超声技术

时间:2020-12-14 点击次数:51
  相控阵技术生成超声波束,这些超声波束的参数,如:角度、聚焦范围和焦点尺寸等,可以通过软件进行控制。而且,声束可在一个很长的阵列上被多路切换。这些特点为仪器增加了一系列新的应用功能。例如,在扫查工件时,可以不移动探头本身而快速改变声束角度。相控阵还可以代替多个探头以及机械部分。以可以变换角度的声束检测部件,可以充分发挥检测性能、优化信噪比,而不用考虑缺陷方向。
 
  相控阵技术优于常规超声技术之处在于它可以使用单个探头组合件中的多个晶片对声束进行偏转、聚焦和扫查。利用通常被称为扇形扫查的声束偏转,可以适当的角度生成被测工件的映射图像。这样就大大地简化了检测几何形状较为复杂的工件的过程。此外,在检测空间有限,不能方便进行机械扫查的情况下,探头的狭小底面及其无需被移动即可以不同角度发射声束的能力更有助于检测这类形状复杂的工件。
 
  扇形扫查一般还用于焊缝检测。使用单个探头以多个角度检测焊缝的能力大大地提高了探测焊缝异常状态的几率。电子聚焦可在会出现缺陷的位置处优化声束的形状和大小,从而可进一步提高检出率。
 
  在多个深度位置聚焦的能力,还可提高体积检测中定量关键性缺陷的能力。这种聚焦特点可以显著改进挑战性应用中的信噪比,而且沿多组晶片进行的电子扫查还可以迅速生成C扫描图像。
 
  相控阵检测优点:
 
  (1)使用软件控制声束角度、焦距和声束点的大小。在每个检测点可以动态扫查这些参数,以为每个不同几何形状的工件优化入射角和信噪比。
 
  (2)可使用一个单个多晶片的小探头和楔块进行多角度检测,既可以单一固定角度进行扫查,也可以多个角度进行扫查。
 
  (3)得益于这些性能,在检测复杂几何形状的工件,或在进行因工件的几何形状而限制接触范围的检测时,相控阵系统具有更大的灵活性。
 
  (4)通过多个晶片而实现的多路传输技术,可使探头从一个位置上,无需移动,即可完成高速扫查。探头在同一个位置就可以不同的检测角度进行一次以上的扫查。

版权所有 © 2019 北京新兴日祥科技发展有限公司 备案号:京ICP备11004065号-4 技术支持:化工仪器网 管理登陆 GoogleSitemap

在线客服 联系方式 二维码

服务热线

13709260123

扫一扫,关注我们